详细摘要： 用于精密材料研发的单晶和多晶片的寿命测量

详细摘要： 台式PID潜在诱导退化测试仪用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。

详细摘要： 灵活的OEM设备，用于多种不同样品的在线寿命测量：从单晶硅到多晶硅锭，从生成态晶圆片到不同镀层或金属化晶圆的过程控制。标准软件接口，易于连接到许多处理或自动化系...

详细摘要： MDPpro 晶圆片晶锭寿命检测仪用于常规质量控制、精密材料研发的单晶和多晶片及晶锭的寿命测量

详细摘要： 微波探测的MDPpicts光感应电流瞬态图谱检测，非接触且无损伤，用于温度依赖的少数载流子寿命测量以及半导体的界面陷阱和体陷阱能级的电性能表征。

详细摘要： MDPinline是一种用于快速定量测量载流子寿命并集成扫描功能的检测仪。通过工厂安装的传送带将晶圆片移至仪器，在不到一秒的时间内，就可以“动态"测量出晶圆图。